Protokoll 20. Treffen der FG ITG 8.5.2 Fehleranalysestrategien




FA 8.5. Qualität und Zuverlässigkeit integrierter Schaltungen

     ITG - Fachgruppe 8.5.2:    
Fehleranalysestrategien

22. Sitzung der ITG FG 8.5.2 "Qualität und Zuverlässigkeit"

Protokoll der 22. Sitzung der ITG FG 8.5.2

 

Ort: Siemens, Amberg
Datum: 01.07.2003
Uhrzeit: 10:00 – 16:00
Organisation : Vogel
Moderation/Protokoll
: Vogel/Touzel

 

Teilnehmer:

Hr. Dr. Jansen

Siemens A&D CD CC SQA

Amberg

Hr. Dr. Vogel

Siemens A&D CD CC SQA E

Amberg

Fr. Teubert

Elmos

Dortmund

Hr. Dr. Zschech

AMD

Dresden

Hr. Saalfrank

ZMD

Dresden

Hr. Dr. Frey

Fraunhofer Gesellschaft

Erlangen

Hr. Lindner

Micronas

Freiburg

Hr. Otte

Texas Instr.

Freising

Hr. Touzel

Infineon

München

Hr. Dr. Wulfert

Motorola

München

Hr. Lemme

Siemens CT MM 7

München

Hr. Dr. Zeiger

Siemens ET TW 1

Regensburg

Hr. Weber

Bosch

Reutlingen

Hr. Gruber

Alcatel

Stuttgart

 

Agenda:

Überblick Siemens A&D                 Jansen                             20´

Vorstellung neue Teilnehmer             Fr. Teubert, Zeiger         20’

Nachtrag Grainau                             alle                                 15´

8.5-Themen :                                   Touzel/alle                       60´
- Bericht des Fachauschusssitzung am 26.05.
- Austausch mit 8.5.1
- neue Themen für 03-04 ?

Mittagspause                                                                         45´

Rundgang über Besucherempore der Elektronikfertigung des EWA     20’
(Elektronikwerk Amberg)

FA-Management bei Siemens A&D CD CC SQA E         Vogel        20´

EBSD                                               Zschech                       20´

Verschiedenes :
- Konferenzteilnahme                            alle                           10´
- Status Equipment - Evaluierungsliste   alle                            15´
- Status Anadef                                    Touzel                         5´

Vorläufiger Besprechungsbericht

Liebe Kollegen der FG

Hier die Kurzfassung unseres gestrigen Treffens bei Hrn. Vogel (nochmals vielen Dank für die vorbildliche Organisation !).

Die vollständige Version wird verteilt, sobald ich die Folien der diversen Beiträge resp. die während der Diskussionen erwähnten Links erhalten habe.

J. Touzel, 02.07.2003

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Teilnehmer : Alcatel/Stuttgart, AMD/Dresden, Bosch/Reutlingen,

ELMOS/Dortmund, FhG/IIS/Erlangen, Infineon/München, Micronas/Freiburg,

Motorola/München, Siemens A&D/Amberg, Siemens CT/München, Siemens

ET/Regensburg, Texas Instrument/Freising, ZMD/Dresden

 

Überblick Siemens A&D :

- kurzer Überblick über Organisation von A&D CD und AS inkl. Produktpalette 
(z.B. SIMATIC) sowie Aufgabengebiet von A&D SQA (Suppliers Quality Assurance)

- Werkbesichtgung der Elektronikfertigung des EWA (Elektronikwerk Amberg)

- FA-Management bei A&D SQA E (Vogel) : lab-org, controlling, FA-Schwerpunkte

ITG 8.5 Themen :

- Touzel wird offiziell Sprecher der FG 8.5.2 als Nachfolger von C. Boit

- Bericht über Fachauschusstreffen in Grainau am 26.05.03 (Touzel)

- Austausch mit 8.5.1 : Einladung Hr. Mertin zum nächsten Treffen

- Austausch der Protokolle der div. FG-Treffen

- Gestaltung der 8.5.2 Homepage

- Themendefinition für die künftigen Treffen der FG

Analyse Highlight:

- Hr. Zschech (AMD) stellt EBSD (Electron Back Scattering Diffraction) vor als monitoring tool für den Cu-electroplating process

(wird schon routinemässig bei AMD eingesetzt).

Sonstiges :

- Vorstellung zwei neuer Mitglieder und deren Arbeits- und Aufgabengebiete: Siemens ET (Regensburg) und Elmos (Dortmund)

- Equipment und Evaluierungsliste : Aktualisierung

- Eufanet : call for participation

- Grainau : allg. hohes Niveau, wenn möglich interessante Beiträge auf die Homepage stellen.

            

Das 23. Treffen findet voraussichtlich am 21.01.2004 bei Christian Boit, an der TU Berlin statt.

 

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