Veranstaltungen

ITG FB 8.5 Qualität und Zuverlässigkeit integrierter Schaltungen

Einladung zur 28. ITG-Diskussionssitzung

'Fehlermechanismen bei kleinen Geometrien'

Sehr geehrte Damen und Herren,

der ITG-Fachbereich 8.5 "Qualität und Zuverlässigkeit integrierter Schaltungen", veranstaltet am

31.05. und 01.06.2011 in Grainau

seine 28. Diskussionssitzung zum Thema 'Fehlermechanismen bei kleinen Geometrien'. Wir laden Sie zu dieser Veranstaltung sehr herzlich ein.

Das Programm der Sitzung ist beigefügt (siehe unten). Der Sitzungsbeginn am 31.05.2011 ist auf 9:00 Uhr festgelegt.

Mit dem Hotel am Badersee in Grainau wurde eine Kostenpauschale vereinbart, in der die Kosten für den Tagungsraum, Tagungsgetränke sowie Kaffee bzw. Tee in den Pausen mit einbezogen sind.

Wir bitten Sie, Ihre Reservierungswünsche dem Hotel sofort mitzuteilen (siehe Anmeldeformular 2011), spätestens bis 29.04.2011.

Diese Diskussionssitzung soll einem ausgewählten Kreis von Fachleuten aus der ITG Gelegenheit zu einem offenen Meinungsaustausch geben. Die Vorträge sollen in der Regel etwa 2/3 der eingetragenen Zeit ausmachen, um anschließend genügend Zeit für eine Diskussion zu ermöglichen. Die Diskussion kann am 31.05.11 auch noch nach dem Abendessen in kleinem Kreis fortgesetzt werden.

Um dem informellen Charakter der Veranstaltung gerecht zu werden, sind Ton- und Bildaufnahmen nicht gestattet. Für Einwohner der Bundesrepublik Deutschland ist Mitgliedschaft in der ITG Voraussetzung für die Teilnahme. Sollten Sie noch nicht Mitglied der ITG sein, bitten wir um Anmeldung über Ihren VDE-Bezirksverein (Internet http://www.vde.de/).

Bitte geben Sie die Unterlagen an die Koautorinnen und -autoren weiter.

Wir freuen uns, Sie am 31.5./1.06.2011 in Grainau begrüßen zu können.

Prof. Dr. Christian Boit

Dr. Rainer Weiland

Dr. Rainer Weiland

Infineon Technologies AG

Senior Manager

Product & Technology Analysis IFAG OP BE RPA PTA 5

Rainer.Weiland(at)infineon.com